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분석장비 Analysis Device

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OM(광학현미경)

장비
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 모델명 KH-8700
제조회사 HIROX KOREA
제조국가 한국
주요제원 - 정밀 형상 측정 - 배율 35~2500x

MICRO 비커스 경도계

장비
micro비커스경도계 모델명 MMT-X
제조회사 Matszawa
제조국가 일본
주요제원 - 시험하중 : 9.807 - 19614N - 압입시간 : 5 - 10s

비커스 경도계

장비
비커스 경도계 모델명 VMT-X7
제조회사 Matszawa
제조국가 일본
주요제원 - 시험하중 : 9.807 - 490.3N - 압입시간 : 5 ~ 10s

밀도계

장비
밀도계 모델명 MSA323S-100-DE
제조회사 Sartorius
제조국가 독일
주요제원 - 정밀 전자 저울 - Readability : 1mg

FE-SEM(전계방사형 전자현미경)

장비
모델명 S4800
제조회사 HITACHI
제조국가 일본
주요제원 - 초정밀 형상 측정
- Voltage : 0.5 - 30 kV
- Resolution : 1.0 nm
- Travel : 110mm x 110mm

나노 인덴테이션

장비
모델명 TI950, Triboldenter
제조회사 HYSITRON
제조국가 미국
주요제원 - 정밀 재료경도측정
- Sensitivity: < 30nN
- Travel : 250×150mm
- Encoder resolution : 500nm

AFM(Atomic Force Microscope)

장비
모델명 MFP-3D
제조회사 ASHYRUM
제조국가 미국
주요제원 -

HRXRD(고분해능 X선회절 분석기)

장비
모델명 D8-DISCOVER
제조회사 Bruker
제조국가 독일
주요제원 - Measureing circle diameter : 500, 1080mm
- Max. usable angular range : -110° < 2Theta ≤168°

XRD(다목적 X선회절 분석기)

장비
모델명 D8-ADVANCE
제조회사 Bruker
제조국가 독일
주요제원 - Measureing circle diameter : 500, 560, 600mm
- Max. usable angular range : -110° < 2Theta ≤168°